Способ тестирования чипов каскадных фотопреобразователей на снове соединений Al-Ga-In-As-P и устройство для его осуществления
Патент РФ #2384838 от
20 марта 2010, тип: Изобретение Андреев,ВМ; Ащеулов,ЮВ; Малевский,ДА; Румянцев,ВД
Правообладатели: ФТИ имени А.Ф. Иоффе РАН
Авторы-сотрудники ФТИ: Андреев,ВМ, Ащеулов,ЮВ, Малевский,ДА, Румянцев,ВД
Подразделения: Андреева,ВМ, Луке Лопеса,АИ, Андреева,ВМ, Андреева,ВМ
Терагерцовый сканирующий зондовый микроскоп
Патент РФ #92172 от
10 марта 2010, тип: Полезная модель Андрианов,АВ; Трухин,ВН
Правообладатели: ФТИ имени А.Ф. Иоффе РАН
Авторы-сотрудники ФТИ: Андрианов,АВ, Трухин,ВН
Подразделения: Берегулина,ЕВ, Берегулина,ЕВ
Оптический элемент модулятора
Патент РФ #92208 от
10 марта 2010, тип: Полезная модель Акимов,АВ; Голубев,ВГ; Каплан,СФ; Певцов,АБ; Щербаков,АВ
Правообладатели: ФТИ имени А.Ф. Иоффе РАН
Авторы-сотрудники ФТИ: Акимов,АВ, Голубев,ВГ, Каплан,СФ, Певцов,АБ
Подразделения: Феофилова,СП, Голубева,ВГ, Голубева,ВГ, Голубева,ВГ
Двухсекционный лазер
Патент РФ #2383093 от
27 февраля 2010, тип: Изобретение Портной,ЕЛ; Гаджиев,ИМ; Соболев,ММ; Бакшаев,ИО
Правообладатели: ФТИ имени А.Ф. Иоффе РАН
Авторы-сотрудники ФТИ: Портной,ЕЛ, Гаджиев,ИМ, Соболев,ММ, Бакшаев,ИО
Подразделения: Портного,ЕЛ, Портного,ЕЛ, Конникова,СГ, Портного,ЕЛ
Способ определения фотоэлектрических параметров высокоомных
полупроводников
Патент РФ #2383081 от
27 февраля 2010, тип: Изобретение Брюшинин,МА; Соколов,ИА
Правообладатели: ФТИ имени А.Ф. Иоффе РАН
Авторы-сотрудники ФТИ: Брюшинин,МА, Соколов,ИА
Подразделения: Кумзерова,ЮА, Кумзерова,ЮА